產(chǎn)品[
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
]資料
如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱:
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
產(chǎn)品型號(hào):
A1/C/D/M1
產(chǎn)品展商:
其它品牌
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片:A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1、A2；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對(duì)應(yīng)。試片為A1 （15/50μ）標(biāo)準(zhǔn)試片。磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
的詳細(xì)介紹
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片性能規(guī)格：
A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1、A2；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對(duì)應(yīng)。本試片為A1 （15/50μ）標(biāo)準(zhǔn)試片。相當(dāng)于A1型試片中2# (30/100μ)標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D；適用于中靈敏度探傷，其中括號(hào)中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為（微米），D為工件直徑。
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
A型靈敏度試片先由日本無損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出，以后為多個(gè)使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對(duì)幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具。
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片特 點(diǎn)：
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡(jiǎn)便。對(duì)各類零件所有方向的磁場(chǎng)，尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí)，表現(xiàn)其獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)。
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片包括：
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片使用方法：
1、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件，用膠帶紙緊密地貼上，保證試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣，不能覆蓋試片背面的刻槽部位。
2、進(jìn)行外加懸場(chǎng)法，對(duì)工件進(jìn)行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，即是磁化電流）。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。
注意事項(xiàng)：
1、試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，保證試片與被檢面接觸良好。
2、試片用后請(qǐng)涂防銹油。
3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。
磁粉探傷用標(biāo)準(zhǔn)試片A1、A2、D、C、M1型詳細(xì)使用說明：
主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)設(shè)備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場(chǎng)強(qiáng)度和方向、有效檢測(cè)區(qū)以及磁化方法是否正確。
標(biāo)準(zhǔn)試片A1、A2、D、C、M1型規(guī)格中：
|
名稱
|
A1型試片 / A2型試片
|
D型
|
C型
|
M1
|
|
試片厚度 微米
|
100±10
|
50±5
|
50±5
|
50±5
|
50±5
|
|
試片長(zhǎng)度 毫米
|
20±1
|
20±1
|
10±0.5
|
10±0.5
|
20±1
|
|
試片寬度 毫米
|
20±1
|
20±1
|
10±0.5
|
50±0.5
|
20±1
|
|
分割線間隔 毫米
|
|
|
|
5±0.5
|
|
|
圓形人工槽直徑 毫米
|
高靈敏度
|
10±0.5
|
10±0.5
|
5±0.3
|
|
12
|
|
中靈敏度
|
|
|
|
|
9
|
|
低靈敏度
|
|
|
|
|
6
|
|
十字人工槽長(zhǎng)度 毫米
|
高靈敏度
|
6±0.3
|
6±0.3
|
3±0.2
|
|
|
|
中靈敏度
|
|
|
|
|
|
|
低靈敏度
|
|
|
|
|
|
|
人工槽深度
微米
|
高靈敏度
|
15±2.0
|
7±1.0
|
7±1.0
|
8±1.0
|
7
|
|
中靈敏度
|
30±4.0
|
15±2.0
|
15±2.0
|
15±2.0
|
15
|
|
低靈敏度
|
60±8.0
|
30±4.0
|
30±4.0
|
30±4.0
|
30
|
|
人工槽寬度 微米
|
60—180
|
磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)試片使用方法：
標(biāo)準(zhǔn)試片適用于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)將試片無人工缺陷的面朝外，為使試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。
磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A130/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。當(dāng)檢測(cè)坡口狹小部位，由于尺寸關(guān)系可選擇適合大小的試片檢測(cè)；當(dāng)用戶需要或技術(shù)文件有規(guī)定時(shí)，可選用規(guī)定的試片檢測(cè)。
標(biāo)準(zhǔn)試片在檢測(cè)前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去；檢測(cè)后請(qǐng)防銹。
標(biāo)準(zhǔn)試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。
A1、A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經(jīng)過退火處理；A2試片未經(jīng)過退火處理。
C型標(biāo)準(zhǔn)試片可剪成5個(gè)小試片分別使用。
